SUBKLİNİK VƏ KLİNİK KEROTOKONUSUN DİAQNOSTİKASINDA ŞEİMPFlUQ TOMOQRAFIN PARAMETRLƏRNİN HƏSSASLIĞI VƏ SPESİFİKLİYİ

Xülasə

Məqsəd – subklinik və klinik kerotokonusun diaqnostikasında Şeimpfuq tomografın parametrlərinin həssaslığı və spesifkliyini qiymətləndirmək.

Material və metodlar
Hazırki tədqiqatda bir və ya hər iki gözündə müxdəlif mərhələli keratokonus aşkar edilmiş 638 gəncin məlumatları təhlil edilmişdir. Bütün gənclər şeimpfyuq tomoqrafya müayinəsindən keçmişdir. Keratokonus aşkarlanan gənclərdən 46 (7,2%) nəfərdə unilateral və 589 (92,3%) –nəfərdə isə bilateral keratokonus aşkar edilmişdir. Son nəticədə subklinik keratokonus qrupda 88 xəstənin, klinik keratokonus qrupda 1-ci mərhələ keratokonusu olan 98 xəstənin və normal kontrol qrupda daha 100 gəncin bir gözünün tomoqrafk parametrləri təhlil edilmişdir. Xəstəliyin diaqnostikasında efektiv parametrlərin həssaslığının və spesifkliyinin dəqiqləşdirilməsi üçün ROC-əyrisindən istifadə edilərək statistik hesablama aparılmışdır. Parametrlərin çoxluğu nəzərə alınaraq son nəticədə ən efektiv parametrlərin nəticələri və keçid nöqtələri hesablanmışdır.

Nəticə
Subklinik və klinik keratokonuslu gözləri normal qrupla müqayisə edərkən təhlil olunanan parametrlərin əksəriyyəti əhəmiyyətli statistik fərq göstərmişdir. ROC əyri analizi ardıcıl olaraq D parametri, ön və arxa elevasiya göstəriciləri (AE, PE), paximetriyanın proqressivləşmə indeksləri (PPİ max, PPİorta), topometrik xəritədən isə səth dəyişikliyi indeksi – İSV, keratokonus indeksi – Kİ, hündürlüyün desentrasiya indeksi – İHD kimi parametrlərin yüksək proqnostik dəqiqliyini göstərdi. Ektatik buynuz qişaları normal qrupdan diferensasiya edərkən yuxarıdakı parametrlərin həssaslığı və spesifkliyinin nəticələri klinik keratokonuslu gözlərdə subklinik keratokonuslu gözlərə nisbətən çox yüksək olmuşdur.

Yekun
Şeimpfug tomoqrafın müxtəlif parametrləri, keratokonusu normal buynuz qişalardan efektli şəkildə ayırd edə bilir. Bununla yanaşı, subklinik keratokonusu normal buynuz qişadan ayırmaq üçün D parametri, elevasiya parametrləri, paximetrik proqressiya indeksləri və çoxsaylı səth indeksləri kimi parametrlərin eyni vaxtda qiymətləndirilməsi lazımdır.